PC3000A
IGBT功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)
該系統(tǒng)適用于各種尺寸的IGBT模塊的功率循環(huán)試驗(yàn)，且運(yùn)用先進(jìn)的JEDEC靜態(tài)試驗(yàn)方法(JESD51-1)通過(guò)改變電子器件的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化。在變化過(guò)程中，通過(guò)測(cè)試芯片的瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線，并對(duì)測(cè)試波形進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到該電子器件的全面熱特性。
