LSIC老化機臺測試系統(tǒng)
方案概述
LSIC老化機臺測試系統(tǒng)是用于測試半導(dǎo)體芯片老化性能的設(shè)備。半導(dǎo)體芯片在長時間運行后，可能會出現(xiàn)老化現(xiàn)象，比如電容降低、漏電流增加等，這些現(xiàn)象會影響芯片的性能和可靠性。因此，LSIC老化機臺測試系統(tǒng)被用來模擬芯片長時間運行的環(huán)境，以便測試芯片在長時間使用后的性能及可靠性。
該系統(tǒng)通常包含加熱、降溫、恒溫等多種測試條件，并配有專業(yè)的測量儀器，可以對芯片的電學(xué)性能、熱學(xué)性能、機械性能等進行測試。此外，該測試系統(tǒng)還可以記錄芯片的使用時間、電壓、溫度等參數(shù)，以幫助工程師分析芯片的工作情況和預(yù)測芯片的使用壽命。
技術(shù)參數(shù)
| LSIC2000/7000系列 | LSIC8000系列主要技術(shù)參數(shù) |
| 1.提供32個老化插槽，可獨立老化16種不同器件 | 1.提供16個老化插槽，可獨立老化16種不同器件 |
| 2.每個老化插槽提供184路可獨立編程的數(shù)字信號，其中有32路為雙向I/0 | 2.每個老化插槽提供128路可獨立編程的數(shù)字信號，128路全為雙向I/0 |
| 3.每個老化插槽提供8個DPS二級電源，二級電源可提供0.5~6V的電壓:0~25A的電流:級電源的電壓精度為士5%+30mV; 電流精度為-1%+50mA | 3.每個老化插槽提供8個DPS二級電源，二級電源可提供0.5~6V的電壓:0~25A的電流:級電源的電壓精度為士5%o+30mV; 電流精度為+1%+50mA |
| 4.上升/下降時間參10nS | 4.上升/下降時間至10nS |
| 5.數(shù)字信號Pin最大驅(qū)動電流: 50mA | 5.數(shù)字信號Pin最大驅(qū)動電流: 50mA |
| 6.數(shù)字信號最大頻率可達12.5Mhz | 6.數(shù)字信號最大頻率可達12.5Mhz |
| 7.向量最大深度可達16M行 | 7.向量最大深度可達16M行 |
| 8.文件格式為VEC格式，支持sti1格式文件直接轉(zhuǎn)換為VEC格式文件 | 8.文件格式為VEC格式，支持sti1格式文件直接轉(zhuǎn)換為VEC格式文件 |
| 支持向量指令A(yù)DV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳轉(zhuǎn)指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME調(diào)用指令:CALL,RET | 9.支持向量指令A(yù)DV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳轉(zhuǎn)指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME調(diào)用指今: CALL,RET |
| 10.支持8路獨立溫控:溫控精度至3”C |