杭可儀器榮幸參加了上海慕尼黑電子展，展期從7月11日至13日，這是一場備受矚目的電子行業(yè)盛會。作為可靠性測試行業(yè)的領(lǐng)軍企業(yè)，杭可儀器展示了最新的老化測試設備和解決方案，吸引了眾多專業(yè)人士和企業(yè)代表的關(guān)注。杭可儀器的展位C636成為展會現(xiàn)場的焦點之一。展覽期間，我們與參會者進行了深入的技術(shù)交流和商務洽談，共同探討行業(yè)發(fā)展的前沿趨勢和創(chuàng)新應用。

作為可靠性測試領(lǐng)域的專家，杭可儀器憑借多年的經(jīng)驗和技術(shù)實力，為客戶提供了全面的解決方案。杭可產(chǎn)品展示的出色性能和可靠性，贏得了與會者的認可和贊賞。參加上海慕尼黑電子展是我們積極拓展市場、推動創(chuàng)新的重要舉措。展會為我們提供了與行業(yè)同仁深入交流、了解市場需求的機會。通過與客戶和合作伙伴的互動，我們進一步鞏固了合作關(guān)系，并為未來的發(fā)展奠定了堅實的基礎(chǔ)。

我們的銷售和技術(shù)團隊備受贊譽。他們展現(xiàn)出了卓越的專業(yè)素養(yǎng)和精湛的專業(yè)知識，以客戶為導向，積極傾聽客戶需求，并通過精準的銷售咨詢和技術(shù)支持提供最佳解決方案。他們的才華和奉獻精神推動著業(yè)務增長，樹立了公司在市場中的良好聲譽。感謝銷售和技術(shù)團隊的辛勤工作和卓越表現(xiàn)。

該系統(tǒng)適用于各種尺寸的IGBT模塊的功率循環(huán)試驗，且運用先進的JEDEC靜態(tài)試驗方法(JESD51-1)通過改變電子器件的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化。在變化過程中，通過測試芯片的瞬態(tài)溫度響應曲線，并對測試波形進行數(shù)據(jù)處理，得到該電子器件的全面熱特性。

該系統(tǒng)采用TDBI技術(shù)，可進行室溫+10℃~150℃ HTOL老化測試，老化過程中實時監(jiān)測被測器件的輸出信號，過程中自動對比向量。

感謝所有蒞臨我們展位的客戶和觀展者，正是您的支持和關(guān)注，使我們的展會取得圓滿成功。

杭可儀器將一如既往地致力于不斷提升產(chǎn)品質(zhì)量和技術(shù)創(chuàng)新，為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的解決方案和服務。

如您在可靠性測試設備和解決方案方面有任何需求或合作意向，請隨時與我們聯(lián)系。

我們期待與您攜手合作，共同開創(chuàng)更美好的未來！